镀层测厚仪是一种基于能谱分析法的物理分析工具。当样品受到X射线照射时,镀层或基材中的原子会被激发,进而释放出各自特有的X射线。不同元素的特征X射线具有不同的性质。探测器捕捉到这些特征X射线后,会将其光信号转化为模拟电信号。经过模拟数字转换器,这些模拟电信号被转换为数字信号,并传输至计算机进行进一步处理。计算机使用专门的软件,根据采集到的谱峰信息,通过数据处理来确定样品中元素的种类及其相应的镀层厚度。
它能够测量常见金属的镀层厚度,无需对样品进行任何预处理;分析所需时间非常短,通常只需几十秒便可获得不同金属镀层的厚度;测量的动态范围也很广,涵盖从0.005μm到60μm。
镀金测厚仪具有快速、简单和实用的特点,广泛用于测量镀层厚度和电镀液的浓度。
仪器介绍
技术指标
设备:金属电镀层测厚仪
型号:Thick800A
外形尺寸为:宽576毫米×深495毫米×高545毫米。
样品室的尺寸为:宽500毫米、深350毫米、高140毫米。
样品台的尺寸为:宽230毫米,深210毫米。
Z轴升降平台的升降范围为0到140毫米。
平台的移动测量范围为:宽度50毫米,深度500毫米,高度135毫米。
分析方法:兼容FP法和EC法的能量色散X射线荧光分析技术。
镀金测厚仪Thick800A是一款广泛使用的能量色散型X射线荧光光谱仪,配备了高分辨率的薄铍窗固态探测器,分辨率达到139eV,处于国际水平。该仪器采用上照式设计,具备多重辐射防护装置和X射线发生器,确保辐射剂量符合国际安全标准。样品观察系统配备了CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位技术以及研发的测厚分析软件,形成了镀金测厚仪的标准配置。
优点简述
这款镀层仪器专门为电子半导体、金属电镀、印刷电路板、饰品手表及检测机构等行业量身定制。它配备了可调节的XYZ三个方向和位置的样品观察系统,以及激光定位功能,使检测过程更加高效便捷。此外,该仪器拥有大的测试内部空间,优良的散热性能和抗电磁干扰能力,模块化结构设计使得安装、调试和维护变得更加容易,能够适应恶劣的工作环境。
电镀的应用领域
铁基材料包括以下几种:□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni/Cr,□Fe/Cu/Ni/Au,以及□Fe/Cu/Ni/Ag。
铜基材料包括以下几种组合:□铜/镍,□铜/银,□铜/黄金,□铜/锡,□铜/镍/锡,□铜/镍/银,□铜/镍/黄金,□铜/镍/铬。
锌基材料——□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
镁铝合金———□铝/铜,□铝/镍,□铝/铜/银,□铝/铜/金
塑料基质——塑料/Cu/Ni,塑料/Cu/Ni/Cr
测量标准
标准 GB/T 16921-2005 / ISO 3497:2000
PCB镀层测厚仪采用X射线光谱技术来测量金属涂层的厚度。
2.美标A754/A754M-08 标准
利用X射线荧光法测定钢材表面金属涂层的涂层质量。
应用优势
快速:对一个样品的测量时间仅需10至60秒,样品可以保持原样或仅经过简单处理。
无损测量:采用物理手段进行测量,样品的特性不会受到影响。
可以对样品进行检测。
4.直观性:谱图分析清晰易懂,元素的分布一目了然,定性分析的速度较快。
5环保:检测过程中不会产生任何废气和废水。