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天瑞X射线荧光镀层测厚仪

阅读： 发布时间：2024-10-18

天瑞仪器股份有限公司是一家研发、生产X荧光镀层测厚仪,直读光谱仪，手持式光谱仪，手持式合金分析仪，气相质谱仪,液相质谱仪，ROHS测试仪，电感耦合等离子发射光谱仪，等离子体质谱仪,手持式不锈钢材质检测光谱仪,镀层膜厚测试仪，X荧光测厚仪的厂家，分析仪器上市公司，公司坐落于江苏省苏州市昆山市，欢迎广大客户前来参观考察。

353.jpg国产X射线荧光镀层测厚仪性能特点
满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用
测试口传感器保护
涂层测厚仪能测镀银层
国产X射线荧光镀层测厚仪样品测试注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底材元素含量不一致的，则需要进行基材修正，选用样品所相似的底材进行曲线 。
涂层测厚仪能测镀银层
国产X射线荧光镀层测厚仪：Thick800A
测定步骤：
步：新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步：确定测试时间：40S
第三步：测试其重复性得出相对标准偏差
涂层测厚仪能测镀银层
技术指标
国产X射线荧光镀层测厚仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg