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天瑞X射线荧光镀层测厚仪

阅读: 发布时间:2024-10-18

天瑞仪器股份有限公司是一家研发、生产X荧光镀层测厚仪,直读光谱仪,手持式光谱仪,手持式合金分析仪,气相质谱仪,液相质谱仪,ROHS测试仪,电感耦合等离子发射光谱仪,等离子体质谱仪,手持式不锈钢材质检测光谱仪,镀层膜厚测试仪,X荧光测厚仪的厂家,分析仪器上市公司,公司坐落于江苏省苏州市昆山市,欢迎广大客户前来参观考察。

353.jpg国产X射线荧光镀层测厚仪性能特点
满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用
测试口传感器保护
涂层测厚仪能测镀银层
国产X射线荧光镀层测厚仪样品测试注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底材元素含量不一致的,则需要进行基材修正,选用样品所相似的底材进行曲线 。
涂层测厚仪能测镀银层
国产X射线荧光镀层测厚仪:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
涂层测厚仪能测镀银层
技术指标
国产X射线荧光镀层测厚仪型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg