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镀层厚度膜厚仪EDX2000A

阅读： 发布时间：2024-05-06

EDX2000A  X 荧光光谱仪主要针对的电镀、化镀、热镀等镀层厚度和含量测试的光谱分析仪器。

仪器测试特点：无损，快速，精密度好，测试过程简单，人性化， 样品测试部位图像电脑和仪器同步显示，可通过 XY 移动平台快速定位和仪器一键测试按钮，实现对测试部位的快速测量。

镀层厚度膜厚仪EDX2000A

技术指标：

 元素分析范围：钾（Al）到铀(U)

 可同时分析多 24 个元素，5 层镀层

 检出限：总线薄可测试 0.005um

 镀层厚度测试范围：0.005um—50um

 X/Y 平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

 平台定位jing度：0.05mm

  测量时间：5s-60s

  计数率：0-8000cps

  变焦摄像头清晰范围：0-50mm

 多次测量厚度重复性 RSD 可达 2%

  长期工作稳定度 RSD 为 3%

 测量示值误差范围：厚度＜1um 小于 10%；厚度≥1um,小于 5%

  温度适应范围：15℃~30℃

 输出电压 220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）

硬件配置

 微焦斑 X 光管

 FSDD 电制冷半导体探测器

 信号检测电子电路

 XY 手动快速定位平台

  高清变焦工业摄像头

  高低压电源

 开放式可视样品腔

 手推式屏蔽系统

 微型准直孔

 一键测试系统

  纯元素板

  标准样品校验片

  人性化的操作软件

对于不同基体和镀层的样品都需要编辑不同的工作曲线，然后进行测试。

应用：

 金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量

 金属表面阳极氧化等涂覆层厚度测试

 电镀液成分测试合、金镀层成分及厚度分析

 首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析和检测机构、电镀行业

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