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全自动多功能XRF镀层测厚X荧光光谱仪

阅读： 发布时间：2023-11-09

全自动X荧光光谱仪/环保检测仪EDX2000A，全新上照式设计，搭载全自动移动平台和影像识别功能，既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及全元素成分分析

全自动多功能XRF镀层测厚X荧光光谱仪

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，*小测量面积达0.03mm²

2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm

3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，*检测*层Ni和第三层Ni的厚度）

4）配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，对成百上千个样品进行全自动检测

5）涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92）

6）成分分析范围：铝Al（13）- 铀U（92）

7）RoHS、卤素有害元素检测

8）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

9）标配四准直器自动切换

10）配有微光聚集技术，*近测距光斑扩散度小于10%

EDX2000A

硬件使用说明书

 

 


 

 

 

 

 

 

 

 

 

    江苏天瑞仪器股份有限公司

 

 

版权申明

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本手册依据现有信息制作，其内容如有更改，恕不另行通知。对江苏天瑞仪器股份有限公司产品和服务的*担保在随产品和服务一起提供的明示保修声明中列出。此处的任何信息不应解释为构成了附加担保。江苏天瑞仪器股份公司在编写该手册的时候已尽*努力保证其内容准确可靠，不对本手册中的技术或者编辑遗漏、不准确、或错误导致的损失和损害承担责任。

 

 

 

 

 

 

 

 

前言

欢迎您使用EDX2000A型X荧光光谱仪。初次使用时，请仔细阅读本说明。

本说明说全部包括产品概述，详细规格说明，结构和原理，安装，使用，维护和保养，故障分析和处理，注意事项，维修声明等九个章节。

    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 目录

一， 产品概述---------------------------------------------------------1

二， 开箱检验---------------------------------------------------------3

三， 产品的详细规格说明------------------------------------------4

四， 产品的结构和原理---------------------------------------------6

五， 产品的安装----------------------------------------------------- 9

六， 产品的使用-----------------------------------------------------11

七， 产品的维护和保养--------------------------------------------13

八， 故障分析和处理-----------------------------------------------15

九， 注意事项--------------------------------------------------------17

十， 辐射安全性-------- --------------------------------------------21

十一， 维修声明-------- ------------------------------------------22

 

 

 

 

 

 

 

 


 

一 产品概述

1， 特点

本仪器专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特设计该款仪器，其特点为以下几点：

 上照式

 测试组件可升降            

 高精度移动平台

 小准直器

 高分辨率探测器

 可视化操作

 激光自动对焦

 任意多个可选择的分析和识别模型

 相互独立的基体效应校正模型

 多变量非线性回收程序

 鼠位测试点

 良好的射线屏蔽

 大样品腔设计

 测试口安全防护

 探测器窗口保护装置

 

 

2， 测试指标

 元素分析范围从钾(K)到铀(U)

 一次可同时分析*多24个元素，5层镀层

 *薄可测试0.005um

 镀层厚镀0.005um—50um

 多次测量重复性可达2%

 长期工作稳定度为3%

   （注：多次重复性实验和长期稳定性实验是在准直器ϕ0.5mm 的条件下测试的，除小于0.1um较薄镀层大多数情况下够可以满足以上标准，RSD为相对标准偏差）

3,   应用领域

 金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量

 金属表面阳极氧化等涂覆层厚度测试

 电镀液成分测试合、金镀层成分及厚度分析

 首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析和检测机构、电镀行业

 

4,   标准配置

 开放式样品腔

 推拉式屏蔽罩

 SDD探测器

 信号检测电子电路

 高低压电源

 X光管

 探测器保护传感器

 计算机及喷墨打印机

 精密二维移动样品平台

 大行程升降测试框