镀层分析仪EDX600PLUS使用X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑,照射在样品位置,从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号,通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号,得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和*分析,是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。
镀层分析仪EDX2000A是一款上照式镀层分析仪,具有外观紧凑、节约空间、易于操作、分析快速、检测*等特点,被广泛应用于常规和复杂镀层结构的样品进行元素分析和厚度检测,尤其是对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,确保客户获得可靠、可重复结果以满足数百种应用,包括:珠宝首饰、小零件、连接器镀层、普通电路板等。