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螺丝镀层测厚仪EDX600PLUS

阅读： 发布时间：2023-10-20

镀层分析仪EDX600PLUS使用X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑，照射在样品位置，从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号，通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号，得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和*分析，是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。

螺丝镀层测厚仪EDX600PLUS

镀层分析仪EDX2000A是一款上照式镀层分析仪，具有外观紧凑、节约空间、易于操作、分析快速、检测*等特点，被广泛应用于常规和复杂镀层结构的样品进行元素分析和厚度检测，尤其是对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，确保客户获得可靠、可重复结果以满足数百种应用，包括：珠宝首饰、小零件、连接器镀层、普通电路板等。

EDX2000A的镀层测厚仪规格参数

特点

自上而下的测量结构，XYZ测量平台，Muti-FP多层算法

元素范围 Na(钠)—Fm(镄) 
分析层数 5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析*多可分析25种元素
X射线管 50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）
探测器 Si-PIN大面积探测器
准直器 φ0.05-φ1可选，多准可选
相机

高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素

放大倍数

40x-160x

手动样品XY平台 移动范围：100 x 150 mm
可编程XY平台 (可选配)
Z轴移动范围 150 mm
样品仓尺寸 520×480×170mm（L×W×H）
外形尺寸 624×702×730mm（L×W×H）
重量 120KG
电源 AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 
额定功率 150W