全新上照式设计,搭载全自动移动平台和影像识别功能,既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及全元素成分分析EDX2000A。
全新上照式设计,搭载全自动移动平台和影像识别功能,既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及全元素成分分析
1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和*的光路转换聚焦系统,*小测量面积达0.03mm²
2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm
3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,*检测*层Ni和第三层Ni的厚度)
4)配备全自动可编程移动平台,可实现无人值守,对成百上千个样品进行全自动检测
5)涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)
6)成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)
7)RoHS、卤素有害元素检测
8)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
9)标配四准直器自动切换
10)配有微光聚集技术,*近测距光斑扩散度小于10%
一 产品概述
1, 特点
本仪器专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求,特设计该款仪器,其特点为以下几点:
上照式
测试组件可升降
高精度移动平台
小准直器
高分辨率探测器
可视化操作
激光自动对焦
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
鼠位测试点
良好的射线屏蔽
大样品腔设计
测试口安全防护
探测器窗口保护装置
2, 测试指标
元素分析范围从钾(K)到铀(U)
一次可同时分析*多24个元素,5层镀层
*薄可测试0.005um
镀层厚镀0.005um—50um
多次测量重复性可达2%
长期工作稳定度为3%
(注:多次重复性实验和长期稳定性实验是在准直器ϕ0.5mm 的条件下测试的,除小于0.1um较薄镀层大多数情况下够可以满足以上标准,RSD为相对标准偏差)
3, 应用领域
金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量
金属表面阳极氧化等涂覆层厚度测试
电镀液成分测试合、金镀层成分及厚度分析
首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析和检测机构、电镀行业
4, 标准配置
开放式样品腔
推拉式屏蔽罩
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
探测器保护传感器
计算机及喷墨打印机
精密二维移动样品平台
大行程升降测试框