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化学镀镍测厚仪

阅读： 发布时间：2023-03-01

化学镀镍测厚仪EDX2000A采用进口高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，能解析每个元素的特征信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层。

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进口的高功率大高压单元搭配进口大功率X光管，能很好的**信号输出与激发的稳定性，同时，故障率也降低。

自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。

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软件界面
人性化的软件界面，让操作变得*加便捷。 
曲线的中文备注，让您的操作*易上手。
仪器硬件功能的实时监控，让您的使用*加放心。
设计亮点
化学镀镍层测厚仪上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。

全新的光路，*短的光程，相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。

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可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。 
可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，大大提高测样效率。

自带数据校对系统，让您永远不再为数据突然变化而担心。

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应用领域
电镀行业
电子通讯
**新能源
五金卫浴
电器设备
汽车制造
磁性材料
贵金属电镀

高校及科研所等

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EDX 2000A化学镀镍测厚仪是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现*加优异，*能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动 ， 双激光定位和保护系统 ， 实现对平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各种简单及复杂形态的样品进行分析。