X射线荧光光谱仪EXPLORER5000由激发源X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据理论,X射线可以看成由一种或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:
E=hν=h C/λ
式中,E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。
EXPLORER 5000T手持式XRF镀层厚度分析仪是使用大屏高分辨率液晶显示屏及数字多道数据处理器的便携式手持镀层测厚分析仪。EXPLORER 5000T可对大面积镀层产品进行膜厚分析,仪器不仅体积小、重量轻,可随身携带进行测量;而且性能,堪比台式机。行业应用五金建材、水暖卫浴、电力电气等性能优势1、更便捷的操作重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有仪器套,更易抓握,使用更方便。270 °可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的测试。2、更的性能无损快速检测,对准即测,数秒即可报结果。性能堪比台式机,检测效果又快又准。近光路设计,提升计数率达到5倍以上,大大缩短测试时间,完全可以满足手持检测需求。3、更强劲的电力选配大27000mAh锂电池,续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器,保证电力供应。内置记忆电池,换电池不断电。4、更的配置微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精度。采用主频及大内存,大存储空间,可海量存储数据。研发的数字多道技术,保证每秒有效采谱计数可达500kcps。准直滤波系统,其组合达到极限12组,满足客户的不同条件下的检测需求。高清晰摄像头,随时观察样品测试位置,使测量更加。5、更安全的防护智能三色预警系统:LED三色长灯带设计,360度无死角显示。通电开机时绿灯亮,测试红灯闪烁,设备故障黄色灯闪烁,仪器状态,一目了然。三重安全防护功能:a: 自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。b: 采用加厚防护测试壁,有效防止散射。c: 配送防护安全罩,防周边轻基体散射。安全联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,时间保护您的安全,守护后关卡。6、更智能的软件EXPLORER5000T手持式镀层测厚分析仪配有针对镀层厚度分析的应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和模式)。用户模式选择相应曲线一键检测镀层厚度;模式可进行元素编辑,曲线等深入分析操作。
镀层厚度分析仪的测量主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些中种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,X射线镀层厚度分析仪向微型、智能、多功能 实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用的测厚仪器。
天瑞仪器将以“行业技术”的姿态,不断探究世界分析领域的。为客户提供更加的产品和更加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案,从而推动经济快速全球化。