EDX 600增强型是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验,专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行*检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
技术参数:
测量元素范围: 13铝AI~92铀U之间的元素均可测量
同时检测镀层及元素 可同时分析5层以上镀层,并测量24种元素
检出限 金属镀层分析*薄可达0.005μm
厚度范围 分析镀层厚度一般在50μm以内
厚度测试精度 <5%
含量测试范围 0.1%--99.9%
含量检测精度 <0.5%
稳定性 多次测量重复性可达1%
检测时间 5-40秒
高压单元 进口大功率高压单元
探测器及分辨率 140±5eV 大窗口SDD半导体Be窗探测器
X射线装置 100W高功率微聚光W靶光管
多道分析器 DMCA数字多道分析技术,分析道数4096道
准直器和滤光片标配 标配Φ0.2mm;选配 0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.3mm或其他孔径
*小测试直径 Al或Ni滤光片Ф0.1mm
样品观察 工业级高敏感摄像头,图像可放大30倍,实现微小样品清晰定位
样品移动平台 手动高精度移动平台
对焦 手动测距对焦
分析方法 FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法
安全性 FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法
外型尺寸 用户安全
样品室尺寸 497(W)×427(D)×468(H)mm
415(W)×374(D)×218(H)mm
操作环境温湿度 0~30℃,湿度≤70%
工作电源 交流220±5V
硬件配置:
采用高分辨率的SDD探测器,分辨率高达140EV
进口的大功率高压,让Ag,Sn等镀层的测量能更
加稳定。
配备微聚焦的X光管,犹如给发动机增加了涡轮
增压,让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择:
0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3m
m。贴心打造出*适合您的那一款
设计亮点:
全新的下照式设计,一键式的按钮,让您的鼠标
键盘不再成为必须,极大减少您摆放样品的时
间。
全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现
了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补
正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱
形,螺纹,曲面等)的异型测试面的*测试。
结论:经实测,EDX 600增强型针对镀层厚度分析,尤其是微小样品的厚度检测,有着非常*的稳定性与精密
度,去测试效果可以与高倍数的电子显微测试精度媲美。