EDX1800B美国原装电致冷高性能Si-PIN探测器,分辨率高,探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。可应用于合金分析、镀层检测、贵金属分析、考古分析、环境保护、ROHS/无卤指令检测、玩具指令检测标准等多个领域。
1.采用美国原装电致冷高性能Si-PIN探测器,分辨率高,探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。
2. 配置国际*的DPP数字多道信号集成处理器,比普通模拟多道信号处理器性能更佳,尤其在高计数率时有更好的分辨力(如Hg和Cl等),高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短,测量重复性和长期稳定性更好。
3. 内置高清摄像系统,清晰观察样品,准确定位样品测试区域。
4. 配套新一代FP测量软件,集成多种谱图处理算法和基体校正算法,有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰,使低含量和痕量元素的检测结果更加准确,更加接近真值水平。
1. 分析范围:硫(S)-铀(U)
Measurable elements:S-U
2. 含量范围:2ppm-99.99%
Element content: 2ppm-99.99%
3. 测量时间:50-300秒(可调)
Measurement time 50-300s(adjustable)
4. 能量分辨率:149±5eV
Resolution: 149±5eV
5. 高压电源功率:50W
High voltage power supply power:50W
6. 样品腔尺寸: 610mm×320mm×100mm
Sample chamber size : 610mm×320mm×100mm