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镀层测厚的仪器

阅读： 发布时间：2022-04-27

镀层测厚仪EDX600

采用上照式激发方式并配备了SDD探测器，对样品激发效率更高，测试更。元素分析范围为硫(S)-铀(U)，*多可同时分析5层镀层。可应用于镀层测厚、镀层分析等领域。

镀层测厚的仪器

镀层测厚仪TRF5000
产品特点

1、整体结构化设计，仪器美观大方。

2、采用美国*的SDD探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

3、采用研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更*。

4、一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。

5、多重防辐射泄露设计。

EDX600技术参数

EDX 600 增强型是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行*检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标键盘不再成为必须，极大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的*测试。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探测器，分辨率高达140EV进口的大功率高压，让Ag,Sn等镀层的测量能更加稳定。
配备微聚焦的X光管，犹如给发动机增加了涡轮增压，让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3mm。贴心打造出*适合您的那一款。
软件界面
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

工作原理

从X荧光分析测量原理可以看出镀层被激发区的特征X射线的强度与镀层和涂层元素含量成正比。在一定被激发区的测量区域内，镀层和涂层元素百分比含量是固定的，因而所测得的X荧光强度与该测量范围镀层和涂层的厚度成一定正比例关系。在一定的厚度范围内，镀层和涂层的厚度与激发区的特征X射线的强度成正比例关系，因此只要测量该范围内的X荧光强度值，即可算出镀层和涂层的厚度。


应用基体

铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，         
□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag

铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr

锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au

镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au

塑胶基体－－--plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

 

镀层测厚仪TRF5000

应用领域
镀层厚度检测
镀层厚度检测
合金分析