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电镀层测厚仪国产的

阅读： 发布时间：2022-01-26

EDX600镀层测厚仪仪器概述：
EDX600镀层测厚仪使用电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的*具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作*人性化、*方便。
国产电镀层测厚仪
膜厚测试仪x-ray性能优势
1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换
6.双重保护措施，实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动自检、复位；
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；
直接点击全景或局部景图像选取测试点；
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。
工作原理：若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
下述可描述X-射线荧光（x-ray）的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射，此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
国产电镀层测厚仪
膜厚测试仪用途产品介绍：
膜厚测试仪哪个好，国外的主要就是德国费希尔，国内的当属天瑞仪器具影响力，Thick 8000膜厚测试仪是针对镀层厚度（镀镍、镀锌、镀银、镀铜、镀铑、镀钯、镀金等）测量而精心设计的一款*仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；*、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
国产电镀层测厚仪
镀层测厚仪仪器概述：镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果*加**。
镀层测厚仪性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
**移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果*加**
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
仪器配置                                            
1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： 
(1)   X光管                 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路                (4) **样品移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔      (8）双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3   计算机、打印机各一台
计算机（，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4   资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。