镀金测厚仪Thick800a是天瑞集团多年研发的一种用于镀层工业的仪器,它能通过软件操作、多点测试、用软件控制仪器的测点和移动平台进行测试。本仪器功能强大,配上门为其开发的软件,在镀层业中可谓大展拳脚,产品在高压开关,表面处理,电子元器件。
工艺指标
类型:Thick800A。
硫(S)和铀(U)的元素分析范围。
可同时分析30多种元素,镀有五层。
通常在50微米以内的镀层厚度(每种材料的厚度不同)
有多种可选的分析与识别模式。
互不相关的基体效应修正模型
多元非线性收集器。
其适应温度范围从15℃到30℃。
供电:交流220V±5V,交流净化电源配置。
外型尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm
样箱尺寸:500(W)×350(D)×140(H)毫米。
体重:90公斤。
绩效特征
能满足不同厚度样品及不同表面样品的测试要求。
小孔径的φ0.1mm的准直器可以满足小测点的要求。
X射线
荧光光谱仪的高移位平台可用于定位试验,重复定位误差小于0.005mm。
激光高定位,可自动定位检测高度。
用定位激光器定位光斑,确保测试点与光斑一致。
滑鼠可以控制移动平台,滑鼠点击的地方就是被测点。
射线屏蔽效果好。
高灵敏度试验传感器保护装置。
配置标准。
开放的试样室。
高精度二维移动采样平台,探测器和X光管上下移动实现三维移动。
双重激光定位设备。
X射线荧光镀层分析仪铅玻璃防护罩
西-宾探测器。
讯号探测电路。
高、低压电源
X光管
高感应器
防护传感器
电脑和喷墨打印机。
适用范围
金、铂、银等贵金属及各种珠宝的检验。
对金属涂层厚度、电镀液含量及镀层厚度的测定进行了研究。
X-光荧光镀层分析仪thick800A主要应用于贵金属加工及珠宝加工行业、银行、珠宝销售及检测机构、黄金行业。