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x射线荧光镀层测厚仪厂家

阅读： 发布时间：2021-05-20

天瑞仪器有限公司生产的x射线荧光镀层测厚仪THICK800A系列在电镀检测行业中，针对上述五项需求的应用：

(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可*分析；

(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否标。

x射线荧光镀层测厚仪厂家

同时具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

3、天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
    天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供全方位的服务。
    我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、回访、巡检等全过程、全方位、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
*短交货时间
*快安装
*短维修周期
*长保修期
*个性化服务
维护费用
镀层膜厚检测解决方案
Thick 8000x射线荧光镀层测厚仪
x射线荧光镀层测厚仪厂家
1、仪器概述
    Thick 8000x射线荧光镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款*高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
2、性能优势
精密的三维移动平台
*的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果
3、技术指标
分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：*多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，*薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，*小孔径达0.1mm，*小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃
4、测试实例
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。
Thick 8000检测谱图
某国外仪器检测谱图
11次测量结果（Au-Cu)的稳定性数据对比如下：
次数
Thick8000
行业内其他仪器
1
0.042
0.0481
2
0.043
0.0459
3
0.043
0.0461
4
0.0412
0.0432
5
0.0429
0.0458
6
0.0436
0.0458
7
0.0427
0.0483
8
0.0425
0.045
9
0.0416
0.0455
10
0.0432
0.0485
11
0.0422
0.043
平均值
0.0425
0.0459
标准偏差
0.0007
0.0019
相对标准偏差
1.70%
4.03%
极差
0.0024
0.0055
Thick800A
1、仪器概述
 x射线荧光镀层测厚仪是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加*。
2、性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
*小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
3、技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层 
一次可同时分析多达五层镀层
*薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
4、测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
铜镀镍件X射线荧光测试谱图
 
样 品 名
成分Ni(%)
镀层Ni(um)
吊扣
100
19.321
吊扣2#
100
19.665
吊扣3#
100
18.846
吊扣4#
100
19.302
吊扣5#
100
18.971
吊扣6#
100
19.031
吊扣7#
100
19.146
平均值
100
19.18314
标准偏差
0
0.273409
相对标准偏差
0
1.425257
铜镀镍件测试值
结论
实验表明，使用Thick800A x射线荧光镀层测厚仪仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。