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X荧光镀层测厚仪产品资料

阅读： 发布时间：2021-05-20

X荧光测厚仪THICK800A使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

X荧光镀层测厚仪产品资料

2、性能优势
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
Fp软件，无标准样品时亦可测量
3、技术指标
分析范围： Ti-U，可分析3层15个元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次测量稳定性可达1%.
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，*小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
仪器重量：30kg
EDX600 X荧光测厚仪
1、仪器概述
    EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
    EDX600 X荧光测厚仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
2、性能优势
*贵金属检测、镀层厚度检测
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
3、技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm
分析含量一般为：1ppm到99.9%
多次测量重复性可达：0.1%
长期工作稳定性为：0.1%
外观尺寸：430×380×355mm 
样品腔尺寸：306×260×78mm 
重量：30kg
4、标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管