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XRF光谱

阅读： 发布时间：2020-10-22

X荧光谱仪利用XRF检测原理快速、准确、无损地分析各种要素成分。
该仪器的主要特点是利用智能真空系统，对Si、P、S、Al、Mg等轻量元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可以正确分析高含量的Cr、Ni、Mo等重点要素，在冶炼过程控制中测试时间短，大大提高了测试效率和工作效率。
另外，合金分析、全要素分析、有害要素检测的应用也非常广泛。
性能特征。
高效薄窗x光管，指标达到水平。
数字多技术使测试更快，计算率达到10000CPS，精度更高。在合金检查中效果更好。
SDD硅漂移探测器具有良好的能量线性、能量分辨率和可谱特性，高峰背比。
低能量x射线刺激待测量要素，对Si、P等轻要素刺激效果好。
XRF光谱分析仪智能抽真空系统，屏蔽空气影响，大大扩大测试范围。
自动稳定装置保证了仪器工作的一致性。
XRF光谱
高信噪比的电子线路单元。
不同样品自动切换准直器和过滤器，避免手动操作带来的麻烦。
分析技术分解分析峰值，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
多参数线性回归方法明显抑制了元素之间的吸收、增强效果。
内置高清摄像头。
液晶面板显示器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然。
技术参数。
产品型号:EDX4500。
产品名称:x荧光光谱仪。
测量要素范围:钠(Na)至铀(u)
要素含量分析范围:ppm-99.99%(因要素而异，分析范围不同)
同时分析要素:一次可测量几十种要素。
测量时间:30-200秒。
探测器的能量分辨率为145±5eV。
管压:5KV-50KV。
管流:50μA-1000μA。
测量对象状态:粉末、固体、液体。
输入电压:AC110V/220V。
环境温度:15℃-30℃。
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320毫米×100毫米。
外形尺寸:660毫米×510毫米×350毫米。
重量:65公斤。
标准配置。
高效薄窗x光管。
SDD硅漂移探测器。
数字多种技术。
光路强化系统。
高信噪比电子线路单元。
内置高清摄像头。
自动切换型准直器和过滤器。
自动稳定装置。
三重安全保护模式。
可靠的整体钢结构。
90毫米×70毫米状态显示液晶面板。
真空泵。
应用领域。
XRF光谱分析仪广泛应用于合金检查、全要素分析、有害要素检查(RoHS、卤素)