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产品信息
产品名称：镀金层测厚仪
产品型号：THICK800A
生产厂商：
产品数量：不限
产品单价：电议
详细介绍

镀金层测厚仪产品介绍


Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可***定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
X射线镀层膜厚测厚仪指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

X射线镀层膜厚测厚仪应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

天瑞Thick600镀层测厚仪


Thick600应用优势

针对表面平整规则样品分析测试；

可根据样品大小手动更换不同规格准直器；

配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品定量分析；

内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；

手动开关样品腔，操作安全方便。


镀屋样品测试注意事项

  通过对镀层首先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞XRF荧光测厚仪*多可以测6层金属镀层厚度 。

基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。

对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底

镀金层测厚仪

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